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電子元器件失效分析需注意的幾個(gè)重點(diǎn)問(wèn)題

日期:2023-02-06 18:23:34 瀏覽量:916 標(biāo)簽: 元器件失效分析

電子元器件失效分析是借助各種測(cè)試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象,分辯其失效模式和失效機(jī)理,并最終確認(rèn)其失效原因。提出改善設(shè)計(jì)和制造工藝的建議,防止失效的重復(fù)出現(xiàn),提高元器件的可靠性。因此,開(kāi)展失效分析,必須首先在開(kāi)發(fā)、生產(chǎn)、工程等階段建立失效信息和失效器件的收集制度。

電子元器件失效分析需注意的幾個(gè)重點(diǎn)問(wèn)題

失效預(yù)警及啟動(dòng)分析機(jī)制

失效分析雖然重要,但是也不必也無(wú)法做到對(duì)于任何一次失效都進(jìn)行徹底地分析。在產(chǎn)品生命周期內(nèi),器件失效具有明顯的階段性特點(diǎn),不同階段失效的原因也有所不同,因此一個(gè)合理的預(yù)警機(jī)制和啟動(dòng)分析機(jī)制非常必要。而實(shí)際操作中,應(yīng)根據(jù)具體情況來(lái)靈活處理,根據(jù)需要決定是否啟動(dòng)失效分析。

開(kāi)發(fā)階段失效數(shù)量少,但相對(duì)的失效率很高,而且設(shè)計(jì)使用問(wèn)題、新器件質(zhì)量問(wèn)題相對(duì)較多。在該階段發(fā)現(xiàn)問(wèn)題,更改成本也較低。因此應(yīng)適當(dāng)降低預(yù)警門(mén)限,加大失效分析的覆蓋面。

生產(chǎn)階段的失效多集中在早期失效、批次物料問(wèn)題、ESD問(wèn)題、測(cè)試過(guò)應(yīng)力問(wèn)題以及尚未發(fā)現(xiàn)的設(shè)計(jì)隱患。對(duì)于該階段的器件失效問(wèn)題,預(yù)警門(mén)限相對(duì)較高。

工程階段的器件失效,原因主要有早期失效、批次物料問(wèn)題、尚未發(fā)現(xiàn)的設(shè)計(jì)隱患、雷電、潮濕、硫化等環(huán)境問(wèn)題、偶然失效以及損耗失效問(wèn)題。該階段的預(yù)警門(mén)限應(yīng)處于開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)階段之間。通過(guò)工程階段的失效分析工作,去除明顯異常的失效數(shù)據(jù),長(zhǎng)期可以積累得到公司實(shí)際的器件可靠性數(shù)據(jù),建立公司的器件失效率、失效模式與機(jī)理數(shù)據(jù)庫(kù)。

信息反饋機(jī)制

失效發(fā)生的環(huán)節(jié)有開(kāi)發(fā)、生產(chǎn)、工程等階段,失效信息的匯集部門(mén)也相應(yīng)地存在于多個(gè)部門(mén)。如果沒(méi)有及時(shí)地將失效信息反饋至失效分析部門(mén),勢(shì)必影響失效分析的及時(shí)性和分析結(jié)果的準(zhǔn)確性。因此,必須建立有效的反饋渠道,使失效分析工程師能夠及時(shí)了解器件的失效情況以及分析進(jìn)展。

專業(yè)技術(shù)及人員

失效分析工作具有較強(qiáng)的專業(yè)性,從失效分析的過(guò)程看,主要可以分為失效確認(rèn),無(wú)損檢測(cè),解剖分析,失效原因驗(yàn)證,改進(jìn)措施驗(yàn)證等階段,整個(gè)過(guò)程除了需要專業(yè)分析實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行解剖分析外,其他幾個(gè)階段對(duì)失效分析人員的整體素質(zhì)也提出了較高的要求。嚴(yán)格來(lái)講,專職的失效分析工程師應(yīng)具有豐富的設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)經(jīng)驗(yàn),熟悉失效物理、硬件可靠性、失效分析儀器及其使用等知識(shí)和技能。

善于總結(jié),實(shí)現(xiàn)點(diǎn)到面的技術(shù)提升

就一個(gè)單獨(dú)的失效分析而言,其作用和意義是很有限的。該項(xiàng)工作之所以重要,還在于通過(guò)失效分析,可以為可靠性工作提供思路和線索。通過(guò)幾個(gè)獨(dú)立的失效分析的積累,及時(shí)啟動(dòng)對(duì)某一類(lèi)器件或某個(gè)技術(shù)專題的深層次研究,從而解決一個(gè)層面上的問(wèn)題,這樣便提升了失效分析工作的作用和意義。因此失效分析人員應(yīng)具有較高的技術(shù)敏感度,善于提煉和總結(jié),通過(guò)日常失效分析工作,不斷拓展和加深可靠性工作的廣度和深度。

以上是創(chuàng)芯檢測(cè)小編整理的電子元器件失效分析相關(guān)內(nèi)容,希望對(duì)您有所幫助。我公司擁有專業(yè)工程師及行業(yè)精英團(tuán)隊(duì),建有標(biāo)準(zhǔn)化實(shí)驗(yàn)室3個(gè),實(shí)驗(yàn)室面積1800平米以上,可承接電子元器件測(cè)試驗(yàn)證、IC真假鑒別,產(chǎn)品設(shè)計(jì)選料、失效分析,功能檢測(cè)、工廠來(lái)料檢驗(yàn)以及編帶等多種測(cè)試項(xiàng)目。

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