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無(wú)損檢測(cè)的主要方式及目的有哪些?

日期:2023-02-03 18:00:00 瀏覽量:1031 標(biāo)簽: 無(wú)損檢測(cè)

無(wú)損檢測(cè)是利用物理或化學(xué)的方法,采用先進(jìn)的技術(shù)和設(shè)備,在不損壞試件的情況下,對(duì)試件的內(nèi)部和表面組織、性能和狀態(tài)進(jìn)行檢查和檢測(cè)的一種方法。利用材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)異常或缺陷存在引起的熱、聲、光、電、磁等反應(yīng)的變化,以物理或化學(xué)方法為手段,借助現(xiàn)代化的技術(shù)和設(shè)備器材,對(duì)試件內(nèi)部及表面的結(jié)構(gòu)、性質(zhì)、狀態(tài)及缺陷的類型、性質(zhì)、數(shù)量、形狀、位置、尺寸、分布及其變化進(jìn)行檢查和測(cè)試的方法 。

無(wú)損檢測(cè)的主要方式及目的有哪些?

無(wú)損檢測(cè)主要方式:

常用的無(wú)損檢測(cè)方法: 目視檢測(cè)(VT)、渦流檢測(cè)(ECT)、射線照相檢驗(yàn)(RT)、超聲檢測(cè)(UT)、磁粉檢測(cè)(MT)和液體滲透檢測(cè)(PT) 五種。其他無(wú)損檢測(cè)方法:聲發(fā)射檢測(cè)(AE)、熱像/紅外(TIR)、泄漏試驗(yàn)(LT)、漏磁檢驗(yàn)(MFL)、遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試檢測(cè)方法(RFT)、超聲波衍射時(shí)差法(TOFD)、 交流場(chǎng)測(cè)量技術(shù)(ACFMT)等。

做無(wú)損檢測(cè)的主要目的:

1、保證產(chǎn)品質(zhì)量

2、確保安全使用

3、改進(jìn)生產(chǎn)工藝,降低生產(chǎn)成本

無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展經(jīng)歷了無(wú)損檢測(cè)、無(wú)損檢測(cè)和損傷評(píng)估三個(gè)階段。

其中,無(wú)損檢測(cè)是早期的名稱,即缺陷的檢測(cè)和發(fā)現(xiàn);

無(wú)損檢測(cè)是現(xiàn)階段的名稱,它不僅僅指檢測(cè)缺陷,還檢測(cè)樣品的一些其他信息,如結(jié)構(gòu)、性能、狀態(tài)等。

損傷評(píng)估是一個(gè)新的階段,不僅要求發(fā)現(xiàn)缺陷,檢測(cè)試樣的結(jié)構(gòu)、性能和狀態(tài),而且要求獲得更完整、準(zhǔn)確的信息,如缺陷的形狀、尺寸、位置、方位、含量、結(jié)構(gòu)和殘余應(yīng)力等。它應(yīng)結(jié)合成像技術(shù)和自動(dòng)化技術(shù),利用材料力學(xué)、計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)分析和處理技術(shù)等領(lǐng)域的知識(shí),準(zhǔn)確評(píng)價(jià)樣品或產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。

以上是創(chuàng)芯檢測(cè)小編整理的無(wú)損檢測(cè)相關(guān)內(nèi)容,希望對(duì)您有所幫助。創(chuàng)芯檢測(cè)是一家電子元器件專業(yè)檢測(cè)機(jī)構(gòu),目前主要提供電容、電阻、連接器、MCU、CPLD、FPGA、DSP等集成電路檢測(cè)服務(wù)。專精于電子元器件功能檢測(cè)、電子元器件來(lái)料外觀檢測(cè)、電子元器件解剖檢測(cè)、丙酮檢測(cè)、電子元器件X射線掃描檢測(cè)、ROHS成分分析檢測(cè)。歡迎致電,我們將竭誠(chéng)為您服務(wù)!

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