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可靠性驗證

間歇工作壽命試驗(IOL)

描述： 間歇工作壽命試驗利用芯片的反復(fù)開啟和關(guān)閉引起的反復(fù)高溫和低溫，加速芯片內(nèi)各種組件材料和結(jié)合面的熱機械應(yīng)力，驗證封裝、內(nèi)部鍵合等承受由芯片操作引起的熱機械應(yīng)力能力。

失效模式：器件內(nèi)部鍵合異常。


應(yīng)用范圍：汽車電子標準AEC半導體分立器件。


檢測設(shè)備圖片：

間歇工作壽命試驗(IOL)

間歇工作壽命試驗(IOL)