1
IC真?zhèn)螜z測(cè)
刮擦測(cè)試
描述:依據(jù)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)要求,使用利器在芯片表面來(lái)回刮擦,檢查刮擦后的表面,是否存在非測(cè)試前的其標(biāo)識(shí),輔助外觀檢測(cè)以判斷芯片標(biāo)識(shí)是否翻新。
應(yīng)用范圍:所有塑封器件。
刮擦測(cè)試圖片:
描述:依據(jù)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)要求,使用利器在芯片表面來(lái)回刮擦,檢查刮擦后的表面,是否存在非測(cè)試前的其標(biāo)識(shí),輔助外觀檢測(cè)以判斷芯片標(biāo)識(shí)是否翻新。
應(yīng)用范圍:所有塑封器件。
刮擦測(cè)試圖片:
4008-655-800
CXOLab創(chuàng)芯在線檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室
深圳市龍崗區(qū)吉華街道水徑社區(qū)吉華路393號(hào)英達(dá)豐工業(yè)園A棟2樓
深圳市福田區(qū)華強(qiáng)北街道振華路深紡大廈C座3樓N307
粵ICP備2023133780號(hào) 創(chuàng)芯在線 Copyright ? 2019 - 2024
友情鏈接:
創(chuàng)芯在線 Copyright ? 2019 - 2024
QQ咨詢
咨詢熱線
咨詢熱線:
0755-82719442
0755-23483975
官方微信
歡迎關(guān)注官方微信
意見(jiàn)反饋
TOP