隨著電子技術的發(fā)展,電子產品的集成化程度越來越高,結構越來越細微,工序越來越多,制造工藝越來越復雜,這樣在制造過程中會產生一些潛伏缺陷。高低溫交變濕熱試驗機適用于電工、電子、儀器儀表、汽車電器、電子零部件材料等產品,在高低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應性,適用于學校,工廠,軍工,科研,等單位,來檢測各種電子元氣件在高低溫或濕熱環(huán)境下的各項性能指標。高低溫試驗是產品可靠性的必測項目,那么高低溫測試影響產品可靠性的因素有哪些?為幫助大家深入了解,本文將對高低溫測試的相關知識予以匯總。
近日,德國慕尼黑工業(yè)大學的科學家設計并制造了一種可有效應用后量子密碼的計算機芯片,并且通過人工智能程序來重構芯片功能,以測試芯片內植木馬的可驗證性。
失效分析是一門發(fā)展中的新興學科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及,它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。在提高產品質量,技術開發(fā)、改進,產品修復及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。電子元器件技術的快速發(fā)展和可靠性的提高奠定了現(xiàn)代電子裝備的基礎,元器件可靠性工作的根本任務是提高元器件的可靠性。
電子信息技術是當今新技術革命的核心,電子元器件是發(fā)展電子信息技術的基礎。了解造成元器件失效的因素,以提高可靠性,是電子信息技術應用的必要保證。電子元器件的主要失效模式包括但不限于開路、短路、燒毀、爆炸、漏電、功能失效、電參數(shù)漂移、非穩(wěn)定失效等。為了促進電子信息技術的進一步發(fā)展,就要提高電子元器件的可靠性,所以就必須了解電子元器件失效的機理、模式以及分析技術等。
在全球芯片短缺之前,“假芯片”的問題一直存在,只不過人們并沒有過多關注。事實上,這也不是是第一次因為芯片的供應鏈中斷,而引發(fā)起大量假冒產品的現(xiàn)象。最近有媒體報道稱,國內最大的電子市場存在假芯片、翻新芯片等問題,原因在于國內對芯片的需求強烈,一些無良商家借此炒作,坑害了廠家和消費者,這凸顯了國內市場對芯片需求的迫切需求。
作為電子信息產業(yè)鏈上游產品,電子元器件是通信、計算機及網絡、數(shù)字音視頻等系統(tǒng)和終端產品發(fā)展的基礎,電子元器件是否可靠地工作決定著電子設備的運行是否正常。電子元器件外觀缺陷檢測是非常關鍵的一環(huán),由于此類產品一般比較小,對質量的要求又高,很難通過人工大批量檢測,需要利用電子元器件視覺檢測設備來進行外觀缺陷自動化檢測。
電子產品外觀是管控質量重要的因素之一,隨著信息技術的高速發(fā)展,電子元器件在我國需求量逐漸增大。現(xiàn)在電子元器件也逐漸向薄型化、智能化、集成化、微型化的趨勢發(fā)展,有無瑕疵缺陷不僅影響到產品美觀,有的甚至直接影響產品本身的的使用和后續(xù)加工,給企業(yè)帶來重大的經濟損失。
根據(jù)歐盟頒布的RoHS法規(guī),電子元器件中六項有害物質鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯(lián)苯醚、多溴聯(lián)苯的限值不得超過1000ppm,其中鎘的限值是100ppm,符合這些要求的就屬于環(huán)保產品。評定的話就需要第三檢測機構出具的RoHS檢測報告了。RoHS是歐盟法律制定的強制性標準,全名為《關于限制使用電子電器設備中某些有害成分的指令》(RestrictionofHazardousSubstances)。本標準于2006年7月1日正式實施,主要用來規(guī)范電子、電氣產品的材料和工藝標準,使之更符合人體健康和環(huán)保要求
隨著科學技術經濟貿易的迅猛發(fā)展,自然資源海洋宇宙開發(fā)與利用,各種產品在貯存、運輸和使用過程中遇到的環(huán)境越來越復雜,越來越嚴酷。從熱帶到寒帶,從平原到高原,從海洋到太空等等,這就使得用戶和生產者雙方都關心產品在上述環(huán)境中得性能、可靠性和安全性,以保證產品能滿意地工作,這就必須要進行環(huán)境試驗。
1996年發(fā)布的質量管理和質量保證國家軍用系列標準(GJB/Z9001-9004-96),是根據(jù)《軍工產品質量管理條例》(簡稱《條例》)的要求,在相應的質量管理和質量保證國家標準(GB/T19001-GB/T19004-1994)的基礎上,增加軍用產品的特殊要求編制的。我國軍用標準主要分三類:軍用規(guī)范、軍用標準、指導性技術文件。