XRF測(cè)試作為常用測(cè)試之一，人們通常把X射線照射在物質(zhì)上而產(chǎn)生的次級(jí)X射線叫X射線熒光（X—Ray Fluorescence），而把用來(lái)照射的X射線叫原級(jí)X射線。所以X射線熒光仍是X射線。
一臺(tái)典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發(fā)源（X射線管）和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測(cè)樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來(lái)的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。X射線照在物質(zhì)上而產(chǎn)生的次級(jí) X射線被稱為X射線熒光。
_20220415164601_342.jpg "xrf在現(xiàn)代環(huán)境分析中的主要應(yīng)用")
利用X射線熒光原理，理論上可以測(cè)量元素周期表中的每一種元素。在實(shí)際應(yīng)用中，有效的元素測(cè)量范圍為11號(hào)元素 （Na）到92號(hào)元素（U）。
（1）XRF 在礦物加工領(lǐng)域中的應(yīng)用
X 射線熒光光譜分析法在鎢礦檢測(cè)中具有準(zhǔn)確性好， 精密度高的優(yōu)點(diǎn)。在選礦廠浮選生產(chǎn)過(guò)程中， XRF 主要用于在線監(jiān)測(cè)礦漿中重要元素的含量。在國(guó)內(nèi)，選礦生產(chǎn)過(guò)程中主要兩種類型的在線（載流） 品位分析儀： 一是以芬蘭奧托昆普（OUTOKUMPU ）的庫(kù)里厄系列（ Courier 產(chǎn)品）為代表的載流品位分析儀和西北礦冶研究院研制的 BYF100-Ⅲ型載流 XRF ，這些分析儀屬于波長(zhǎng)色散類型；二是以馬鞍山礦山研究院的 WDPF 型為代表的在線品位分析儀，該分析儀屬于能量色散類型。
（2）文物保護(hù)與考古中能量色散型X熒光光譜儀的應(yīng)用
考古研究中,應(yīng)用X射線熒光光譜分析,可以測(cè)定古代遺物中的成分,從而達(dá)到各種分析目的,了解當(dāng)時(shí)的人類社會(huì)文化。X射線熒光光譜分析主要應(yīng)用于鑒定古代遺物的年代、真?zhèn)?、產(chǎn)地和制作工藝等。
（3）XRF在地質(zhì)學(xué)中的應(yīng)用
隨著地質(zhì)學(xué)研究的更深入、更具體，傳統(tǒng)的地質(zhì)調(diào)查已經(jīng)不能滿足當(dāng)下的研究需求，精確度更高、準(zhǔn)確度更強(qiáng)、靈敏度更好的現(xiàn)代測(cè)試分析技術(shù)在地學(xué)研究工作中的重要性越來(lái)越突出。作為一種實(shí)用性好、適用范圍廣、測(cè)試分析成本相對(duì)低的基礎(chǔ)測(cè)試方法， X射線衍射分析已經(jīng)成為一種必不可少的手段，應(yīng)用在地學(xué)領(lǐng)域的各方各面，如巖石學(xué)、礦物學(xué)、礦床學(xué)、構(gòu)造學(xué)等。
以上就是關(guān)于XRF環(huán)境應(yīng)用的幾個(gè)方面，此外XRF還可以在瞬間辨別出土壤中重金屬極低的百萬(wàn)分率含量，在開(kāi)發(fā)或整修學(xué)校、住宅、游樂(lè)場(chǎng)及運(yùn)動(dòng)場(chǎng)以前，XRF是有助于保障環(huán)境安全的重要工具。在對(duì)建筑物及舊房屋進(jìn)行翻修、重建、恢復(fù)及涂漆的過(guò)程中，XRF可以迅速探測(cè)出土壤和塵埃、建筑物表面、含鉛顏料中的鉛元素，從而有助于減少在分析工程是否符合環(huán)境管理規(guī)定的過(guò)程中所耗用的資金和時(shí)間。
