電子產(chǎn)品檢測(cè):元器件失效分析的作用及意義
日期：2021-09-23 16:00:34 瀏覽量：1595 標(biāo)簽: 電子產(chǎn)品檢測(cè) 失效分析 元器件失效分析
失效分析是指分析研究構(gòu)件的斷裂，表面損傷及變形等失效現(xiàn)象的特征及規(guī)律的一門技術(shù)。在提高元器件質(zhì)量，技術(shù)開發(fā)、改進(jìn)，產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義，是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出元器件失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。方法分為有損分析，無損分析，物理分析，化學(xué)分析等。
失效機(jī)制是導(dǎo)致零件、元器件和材料失效的物理或化學(xué)過程。此過程的誘發(fā)因素有內(nèi)部的和外部的。在研究失效機(jī)制時(shí)，通常先從外部誘發(fā)因素和失效表現(xiàn)形式入手，進(jìn)而再研究較隱蔽的內(nèi)在因素。在研究批量性失效規(guī)律時(shí)，常用數(shù)理統(tǒng)計(jì)方法，構(gòu)成表示失效機(jī)制、失效方式或失效部位與失效頻度、失效百分比或失效經(jīng)濟(jì)損失之間關(guān)系的排列圖或帕雷托圖，以找出必須首先解決的主要失效機(jī)制、方位和部位。
失效及其常見形式：機(jī)械構(gòu)件由于組織與性能發(fā)生變化而引起不能完成指定功能時(shí)，稱之為失效。最常見的失效形式有機(jī)械力破壞、腐蝕性破壞、高溫破壞。
失效分析及其意義：失效分析是指分析研究構(gòu)件的斷裂，表面損傷及變形等失效現(xiàn)象的特征及規(guī)律的一門技術(shù)。意義：失效分析對(duì)改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)，選材等提供依據(jù)，并防止或減少斷裂事故發(fā)生；通過失效分析還可以預(yù)測(cè)可靠性；可以提高機(jī)械產(chǎn)品的信譽(yù)，并能起到技術(shù)反饋?zhàn)饔谩?/p>
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元器件失效分析的作用，簡(jiǎn)單說來可以歸納為以下幾點(diǎn)：
（1）發(fā)現(xiàn)影響產(chǎn)品可靠性的根源，提出行之有效的改進(jìn)設(shè)計(jì)、工藝的措施。
（2）在工藝控制、篩選、加速應(yīng)力試驗(yàn)和評(píng)估認(rèn)證等方面，為元器件生產(chǎn)廠和質(zhì)量監(jiān)督部門制定合理的最佳試驗(yàn)方法和規(guī)范提供依據(jù)。
（3）為用戶合理選擇元器件、正確使用元器件及整機(jī)可靠性設(shè)計(jì)提供依據(jù)。
（4）通過分清偶然失效和批次缺陷，為整批元器件的使用和報(bào)廢提供決策依據(jù)。
（5）通過實(shí)施糾正措施，提高產(chǎn)品生產(chǎn)的成品率和可靠性，減少系統(tǒng)試驗(yàn)和工作時(shí)故障的發(fā)生。融融網(wǎng)有相關(guān)資料可以查詢。
在電子元器件的研制階段，失效分析可糾正設(shè)計(jì)和研制中的錯(cuò)誤，縮短研制周期；在電子元器件的生產(chǎn)、測(cè)試和使用階段，失效分析可找出電子元器件的失效原因和引起電子元器件失效的責(zé)任方。根據(jù)失效分析的結(jié)果，元器件生產(chǎn)廠改進(jìn)元器件的設(shè)計(jì)和生產(chǎn)工藝，元器件使用方改進(jìn)電路板設(shè)計(jì)，改進(jìn)元器件或整機(jī)的測(cè)試、試驗(yàn)條件及程序，甚至以此為根據(jù)更換不合格的元器件供貨商。因而，失效分析對(duì)加快電子元器件的研制速度，提高元器件和整機(jī)的成品率和可靠性有重要意義。
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