電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試包括什么？有哪些試驗(yàn)？
日期：2022-06-06 15:43:00 瀏覽量：1765 標(biāo)簽: 可靠性測(cè)試 電子產(chǎn)品檢測(cè)
可靠性測(cè)試是對(duì)產(chǎn)品在規(guī)定的使用壽命和所有環(huán)境(如預(yù)期的使用、運(yùn)輸或儲(chǔ)存)中的功能可靠性進(jìn)行評(píng)估的活動(dòng)。是將產(chǎn)品暴露在自然的或人工的環(huán)境經(jīng)濟(jì)條件下經(jīng)受其作用，以評(píng)價(jià)企業(yè)產(chǎn)品在實(shí)際需要使用、運(yùn)輸和儲(chǔ)存的環(huán)境條件下的性能，并分析問(wèn)題研究環(huán)境因素的影響不同程度及其重要作用機(jī)理。
可靠性試驗(yàn)主要包括：
1.氣候環(huán)境試驗(yàn):高低溫試驗(yàn)、高低溫交替試驗(yàn)、快速溫度變化試驗(yàn)、低壓試驗(yàn)、防護(hù)等級(jí)試驗(yàn);
2.鹽霧試驗(yàn)：中性鹽霧、酸性鹽霧、銅加速鹽霧和循環(huán)鹽霧。
3.機(jī)械試驗(yàn):振動(dòng)試驗(yàn)(隨機(jī)振動(dòng)、掃頻振動(dòng))、機(jī)械沖擊試驗(yàn)、跌落試驗(yàn)。
4.力學(xué)系統(tǒng)性能進(jìn)行試驗(yàn)：拉伸性能、彎曲性能、壓縮生產(chǎn)性能、擺錘沖擊。
5.熱性能測(cè)試:熱變形溫度、維卡軟化點(diǎn)、熔化指數(shù)。
6.電學(xué)系統(tǒng)性能：介電強(qiáng)度、絕緣材料電阻、接觸一個(gè)電阻、接地影響電阻、電壓降。
7.材料試驗(yàn):氙氣燈老化試驗(yàn)、熒光燈老化試驗(yàn)、材料邵氏硬度、鉛筆硬度、耐化學(xué)性、色差、光澤度、附著力、附著力。
_20220606154009_107.jpg "電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試包括什么？有哪些試驗(yàn)？")
可靠性檢測(cè)分類方法:
1.如以環(huán)境發(fā)展條件來(lái)劃分,可分為包括通過(guò)各種各樣應(yīng)力條件下的模擬系統(tǒng)測(cè)試和現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行測(cè)試;
2.試驗(yàn)項(xiàng)目可分為環(huán)境試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、加速試驗(yàn)和各種特殊試驗(yàn)
3.若按測(cè)試研究目的來(lái)劃分,則可分為篩選進(jìn)行測(cè)試、鑒定系統(tǒng)測(cè)試和驗(yàn)收通過(guò)測(cè)試;
4.按試驗(yàn)性質(zhì)也可分為破壞性試驗(yàn)和非破壞性試驗(yàn)。
可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
可靠性試驗(yàn)
1.溫度下限工作試驗(yàn) 受試樣品先加電運(yùn)行測(cè)試程序進(jìn)行初試檢測(cè)。在受試樣品不工作的條件下，將箱內(nèi)溫度逐漸降到0℃,待溫度穩(wěn)定后，加電運(yùn)行測(cè)試程序5h，受試樣品功能與操作應(yīng)正常，試驗(yàn)完后，待箱溫度回到室溫，取出樣品，在正常大氣壓下恢復(fù)2h。
推薦檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：受試樣品功能與操作應(yīng)正常，外觀無(wú)明顯偏差。
2.低溫儲(chǔ)存試驗(yàn) 將樣品放入低溫箱，使箱溫度降到-20℃，在受試樣品不工作的條件下存放16h，取出樣品回到室溫，再恢復(fù)2h，加電運(yùn)行測(cè)試程序進(jìn)行檢驗(yàn)，受試樣品功能與操作應(yīng)正常，外觀無(wú)明顯偏差。 為防止試驗(yàn)中受試樣品結(jié)霜和凝露，允許將受試樣品用聚乙稀薄膜密封后進(jìn)行試驗(yàn)，必 要時(shí)還可以在密封套內(nèi)裝吸潮劑。
推薦檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：受試樣品功能與操作應(yīng)正常，外觀無(wú)明顯偏差。
3.溫度上限工作試驗(yàn) 受試樣品先進(jìn)行初試檢測(cè)。在受試樣品不工作的條件下，將箱溫度逐漸升到40℃，待溫度穩(wěn)定后，加電運(yùn)行系統(tǒng)診斷程序5h，受試樣品功能與操作應(yīng)正常，試驗(yàn)完后，待箱溫度回到室溫，取出樣品，在正常大氣壓下恢復(fù)2h。
推薦檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：受試樣品功能與操作應(yīng)正常，外觀無(wú)明顯偏差。
4.高溫儲(chǔ)存試驗(yàn) 將樣品放入高溫箱，使箱溫度升到55℃，在受試樣品不工作的條件下存放16h，取出樣品回到室溫，恢復(fù)2h。
推薦檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：受試樣品功能與操作應(yīng)正常，外觀無(wú)明顯偏差。
以上是創(chuàng)芯檢測(cè)小編整理的電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試相關(guān)內(nèi)容，希望對(duì)您有所幫助。創(chuàng)芯檢測(cè)是一家電子元器件專業(yè)檢測(cè)機(jī)構(gòu)，目前主要提供電容、電阻、連接器、MCU、CPLD、FPGA、DSP等集成電路檢測(cè)服務(wù)。專精于電子元器件功能檢測(cè)、電子元器件來(lái)料外觀檢測(cè)、電子元器件解剖檢測(cè)、丙酮檢測(cè) 、電子元器件X射線掃描檢測(cè)、ROHS成分分析檢測(cè) 。歡迎致電，我們將竭誠(chéng)為您服務(wù)！
