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電子跌落可靠性測(cè)試試驗(yàn)的方法標(biāo)準(zhǔn)及流程

日期:2022-01-21 13:59:00 瀏覽量:2382 標(biāo)簽: 跌落試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 電子產(chǎn)品檢測(cè) 可靠性試驗(yàn)

跌落試驗(yàn)通常是主要用來(lái)模擬產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能受到的自由跌落,考察產(chǎn)品抗意外沖擊的能力分為包裝跌落和裸機(jī)跌落。裸機(jī)跌落主要考量產(chǎn)品在正常使用過(guò)程中抗意外跌落沖擊的能力。包裝跌落也可以反映包裝件在受到垂直跌落時(shí)候的對(duì)產(chǎn)品的保護(hù)能力。通常跌落高度大都根據(jù)產(chǎn)品重量以及可能掉落機(jī)率做為參考標(biāo)準(zhǔn),落下表面應(yīng)該是混凝土或鋼制成的平滑、堅(jiān)硬的剛性表面(如有特殊要求應(yīng)以產(chǎn)品規(guī)格或客戶測(cè)試規(guī)范來(lái)決定)。

一、測(cè)試程序

跌落測(cè)試程序通常情況下可以參照如下步驟:

1、測(cè)試前樣板的準(zhǔn)備。

2、測(cè)試前須測(cè)試產(chǎn)品的功能、安全及外觀檢查,確定正常之后方可進(jìn)行跌落測(cè)試。

3、須按規(guī)定的方法包裝樣品(參照生產(chǎn)指令或規(guī)格書(shū)),且配件不可漏放。

4、若對(duì)封箱有特別要求(如打帶)則按要求進(jìn)行,若無(wú)特別要求則:包盒用2寸透明膠紙封箱,外卡通箱用3寸透明膠紙封箱。

5、測(cè)試樣品不可少于2整箱或4PCS成品。

6、跌落順序。

7、接縫邊之底角。

電子跌落可靠性測(cè)試試驗(yàn)的方法標(biāo)準(zhǔn)及流程

二、操作流程

1、接線:將隨機(jī)附帶之電源線接入三相電源并接地,將控制箱與測(cè)試機(jī)亦用隨機(jī)所帶之連接線按插頭適配情況接好,并試運(yùn)行上升/下降命令。(若試運(yùn)行時(shí)出現(xiàn)按上升鍵卻向下運(yùn)行或按下降鍵卻運(yùn)行上升之情況,只需在電源處調(diào)換相數(shù)即可。

2、跌落高度調(diào)整:打開(kāi)主機(jī)電源,設(shè)定測(cè)試所需高度(方法如下),按上升鍵使之達(dá)到所設(shè)高度;若在中途停止,則必須使之達(dá)到設(shè)定高度后才可以執(zhí)行反向運(yùn)行命令;

3、將被測(cè)物體放于工作臺(tái)面,然后用固定桿加以固定;

4、按上升鍵使被測(cè)物體提升至設(shè)定高度;

5、按跌落鍵使工作臺(tái)面瞬間脫離被測(cè)物體,被測(cè)物體做自由跌落運(yùn)動(dòng);

6、按復(fù)位鍵使工作臺(tái)恢復(fù)工作狀態(tài);

7、若重復(fù)測(cè)試,則重復(fù)上述步驟;

8、測(cè)試完后:按降低鍵使工作臺(tái)面運(yùn)作至最低位置關(guān)閉電源鍵。

三、跌落高度

針對(duì)跌落測(cè)試國(guó)家有專門的標(biāo)準(zhǔn),跌落方式都是一角、三邊、六面之自由落體,跌落的高度是根據(jù)產(chǎn)品重量而定。分90cm、76cm、65cm幾個(gè)等級(jí)裝貨物重量(lbs)/(kg)落下高度(inches)/(cm)

1~20.99lbs(0.45~9.54kg)30in/(76.20cm)

21~40.99lbs(9.55~18.63kg)24in/(60.96cm)

41~60.99lbs(18.64~27.72kg)18in/(45.72cm)

61~100lbs(27.73~45.45kg)12in/(30.48cm)

四、跌落測(cè)試的目的

跌落測(cè)試是為了檢測(cè)產(chǎn)品在使用的過(guò)程中,抵抗投擲、跌落的能力。釋放試驗(yàn)樣品的方法應(yīng)使試驗(yàn)樣品從懸掛著的位置自由跌落,釋放時(shí),要使干擾最小。

五、方法標(biāo)準(zhǔn)

GB/T2423.8《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落》。

IEC60068-2-32《自由跌落試驗(yàn)方法》。

GB-T4857.5包裝運(yùn)輸包裝件跌落試驗(yàn)方法。

ASTM D 5276-98(2009)

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