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芯片開封開蓋是什么?哪些檢測機構是比較靠譜的?

日期:2021-09-24 14:33:00 瀏覽量:4049 標簽: 開蓋檢測 開蓋測試 芯片開封

IC開蓋,又稱為開片,開封,開帽,DECAP,Decapsulation,IC去封膠,是指去除掉IC的管芯(DIE,晶圓)上面的環(huán)氧樹脂或者其他成分的封裝材料,露出管芯,為IC解密,F(xiàn)IB,拍照或者防止解密等做準備,正常的開片是不損害母片的功能。開封去蓋是一種理化結合的試驗,將芯片外表面的環(huán)氧樹脂膠體溶掉,保留完整的晶?;蚪鹁€,便于檢查晶粒表面的重要標識、版圖布局、工藝缺陷等。

我們平時在做設計或做質量,有時候遇到失效品,樣品拿在手里,內部結構又看不到,這個時候怎么辦呢?這時有兩種選擇,一種是照x-ray,用灰度差異看內部結構布局及比較明顯的缺陷,當然x-ray不是萬能的,比如環(huán)氧樹脂中的鋁線就拍不出來,這個時候有種成本低,效果更明顯的方法可以選擇,那就是開封。

芯片開封的一定要做嗎?樣品開封的目的是暴露封裝內部器件芯片,以便進一步進行芯片表面的電探測和形貌觀察。X 射線透視技術、掃描聲學顯微術等無損失效分析技術只能解決有限的失效分析問題(如內引線斷裂、芯片黏結失效等。)由于單子元器件等封裝材料和多層布線結構的不透明性,對于大部分失效問題,必須采用解剖制樣技術,實現(xiàn)芯片表面和內部的可視察性和可探測性。

芯片開封開蓋是什么?哪些檢測機構是比較靠譜的?

由于開封會用危險的化學試劑,建議經(jīng)驗不足的人不要輕易嘗試,如何選擇靠譜的檢測機構呢?正所謂術業(yè)有專攻,咱們可以去有資質的第三方實驗室。

第一:經(jīng)驗豐富,第三方實驗室是專業(yè)接測試分析的,接觸的案例多,樣品多,自然經(jīng)驗積累更容易找到并發(fā)現(xiàn)問題。

第二:有完善的防護措施,第三方實驗室不是簡單粗暴地開封,他們有抽風,排水系統(tǒng),有防毒面罩,防護手套,防護服裝,操作平臺等較為完善的設備設施,以確保操作人員和操作環(huán)境的安全。

第三:健全的設備,第三方實驗室可以首先用x光大概看看內部布局情況,綁線材質等,再用激光開封機剪薄到芯片位置,然后用酸腐蝕幾秒鐘,清洗。這樣干凈無腐蝕的芯片就展現(xiàn)在我們眼前了。

以上便是此次創(chuàng)芯檢測帶來的“芯片開蓋檢測”相關內容,通過本文,希望能對大家有所幫助。如果您喜歡本文,不妨持續(xù)關注我們網(wǎng)站,我們將于后期帶來更多精彩內容。如您有任何電子產(chǎn)品檢驗測試的相關需求,歡迎致電創(chuàng)芯檢測,我們將竭誠為您服務。 

創(chuàng)芯檢測始終秉持"專業(yè),權威,高效,創(chuàng)新"的宗旨,重金購置國際先進的檢測設備,測試嚴格遵照國際檢測標準及方法,現(xiàn)已取得CNAS認證并獲國際互認資質,客戶群涵蓋海內外多個國家和地區(qū),是國內素質過硬、知名度高的專業(yè)IC檢測機構。


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