元器件篩選標準是什么？有哪些篩選項目？
日期：2021-07-29 16:13:00 瀏覽量：3494 標簽: 元器件篩選
元器件使用方的篩選要求一般由型號總體單位確定,元器件二次篩選是對一次篩選的補充，應在一次篩選的項目和應力基礎上，綜合考慮元器件的使用條件和應用環(huán)境。由于各單位承擔任務不同，對產(chǎn)品的可靠性要求不同，故沒有一個統(tǒng)一的篩選規(guī)范標準。
元器件篩選分類:
按性質分類：
（1）檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線非破壞檢查、X射線非破壞性檢查。
（2）密封性篩選：液浸檢漏、氦質譜檢漏、放射性示蹤檢漏、濕度試驗。
（3）環(huán)境應力篩選：振動、沖擊、離心加速度、溫度沖擊、溫度存儲、綜合應力。
（4）壽命篩選：功率老化、反偏老化篩選。
按生產(chǎn)過程分類：
（1）生產(chǎn)線工藝篩選
（2）成品篩選
（3）裝調篩選（即用模擬 整機使用狀態(tài)）
按篩選方法分類：
（1）分布截尾篩選：對元器件參數(shù)性能的分選；
（2）應力強度篩選：對元器件施加一定強度的應力后進行測量分選；
（3）老煉篩選：在規(guī)定時間內對元器件施加各種應力后進行測試篩選；
（4）線性鑒別篩選：類似老煉篩選，但要應用數(shù)理統(tǒng)計技術進行判別；
（5）精密篩選：在接近元器件使用條件下進行長期老煉并多次精確地測量參數(shù)變化量進行挑選和預測。
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元器件常用的篩選項目:
高溫貯存
電子元器件的失效大多數(shù)是由于其體內和表面的各種物理化學變化所引起，它們與溫度有密切的關系。溫度升高以后，化學反應速度大大加快，失效過程也得到加速，使得有缺陷的元器件能及時暴露，予以剔除。
高溫篩選在半導體器件上被廣泛采用，它能有效地剔除具有表面玷污、鍵合不良和氧化層缺陷等失效機理的器件。通常器件需要在最高結溫下貯存24~168小時。
高溫篩選簡單易行，費用不大，在許多元器件上都可以施行。通過高溫貯存后，還可以使元器件的參數(shù)性能穩(wěn)定下來，減少使用中的參數(shù)漂移。各種元器件的熱應力和篩選時間要適當選擇，以免產(chǎn)生新的失效機理。
功率電老煉
篩選時，在熱電應力的共同作用下，能很好地暴露元器件體內和表面的多種潛在缺陷，它是可靠性篩選的一個重要項目。
各種電子元器件通常在額定功率條件下老煉數(shù)小時至168小時。有些產(chǎn)品，如集成電路，不能隨便改變條件，但可以采用高溫工作方式來提高工作結溫，達到高應力狀態(tài)。各種元器件的電應力要適當選擇，可以等于或稍高于額定條件，但不能引人新的失效機理。
功率老煉需要專門的試驗設備，其費用較高，故篩選時間不宜過長。民用產(chǎn)品通常為數(shù)小時，軍用高可靠產(chǎn)品可選擇100或168小時，宇航級元器件可選擇240小時甚至更長的周期。
溫度循環(huán)
電子產(chǎn)品在使用過程中會遇到不同的環(huán)境溫度條件，在熱脹冷縮的應力作用下，熱匹配性能差的元器件就容易失效。溫度循環(huán)篩選利用了極端高溫和極端低溫間的熱脹冷縮應力，能有效剔除存在熱性能缺陷的產(chǎn)品。元器件常用的篩選條件是-55℃至+125℃，循環(huán)5-10次。
離心加速度
離心加速度試驗又稱恒定應力加速度試驗。這項篩選通常在半導體器件上進行，把高速旋轉產(chǎn)生的離心力作用于器件上，可以剔除鍵合強度過弱、內引線匹配不良和裝架不良的器件，通常選用離心加速度20000g而且持續(xù)試驗一分鐘。
監(jiān)控振動和沖擊
在對產(chǎn)品進行振動或沖擊試驗的同時進行電性能的監(jiān)測，常被稱為監(jiān)控振動或監(jiān)控沖擊試驗。這項試驗能模擬產(chǎn)品使用過程中的振動、沖擊環(huán)境，能有效地剔除瞬時短、斷路等機械結構不良的元器件以及發(fā)現(xiàn)整機中的虛焊等故障。在高可靠繼電器、接插件以及軍用電子設備中，監(jiān)控振動和沖擊是一項重要的篩選項目。
典型振動條件：頻率20-2000Hz，加速度2-20g，掃描1~2周期，在共振點附近要多停留一段時間。典型的沖擊篩選條件是1500-3000g，沖擊3~5次，這項試驗僅適用于元器件。
監(jiān)控振動和沖擊需要專門的試驗設備，費用昂貴，在民用電子產(chǎn)品中一般不采用。除以上篩選項目外，常用的還有粗細檢漏、鏡檢、線性判別篩選、精密篩選等。
常見元器件篩選標準：
GJB548B-2005 微電子器件試驗方法和程序
GJB7243-2011軍用電子元器件篩選技術要求
QJ 10003—2008 進口元器件篩選指南
GJB 33A－1997 半導體分立器件總規(guī)范
GJB 63B－2001 有可靠性指標的固體電解質鉭電容器總規(guī)范
GJB 65B－1999 有可靠性指標的電磁繼電器總規(guī)范
GJB 597A－1996 半導體集成電路總規(guī)范
總結:電子元器件測試貫穿產(chǎn)品設計元器件選型、生產(chǎn)階段元器件接收和選用、產(chǎn)品交付階段的產(chǎn)品“二次”篩選。設法在一批元器件中剔除那些由于原材料、設備、工藝、人為等方面潛在的不良因素所造成的有缺陷的，或可能發(fā)生早期失效的器件，而挑選出具有一定特性的合格元器件或判定批次產(chǎn)品是否合格接收，提高產(chǎn)品使用可靠性，特別是針對進口元器件，通過“二次篩選”保證產(chǎn)品質量可控，提高裝備整體可靠性。
