電工電子產(chǎn)品環(huán)境可靠性測試檢驗標準大全

日期：2021-07-26 16:10:00 瀏覽量：2638 標簽: 環(huán)境試驗可靠性測試

1、低溫試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫GB/T2423.1-2008，IEC60068-2-1:2007

2、高溫試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫GB/T2423.2-2008 ，IEC60068-2-2:2007

3、恒定濕熱試驗

環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cy: 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗 GB/T2423.50-2012，IEC60068-2-67:1995

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗 GB/T 2423.3-2006，IEC 60068-2-78：2001

4、交變濕熱試驗

:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h＋12h循環(huán)） GB/T2423.4-2008，IEC 60068-2-30:2005

5、振動試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分: 試驗方法試驗Fi: 振動混合模式 GB/T 2423.58-2008，IEC 60068-2-80:2005

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fh：寬帶隨機振動（數(shù)字控制）和導則 GB/T 2423.56-2006，IEC 60068-2-64:1993

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fc和導則：振動（正弦） GB/T 2423.10-2008，IEC 60068-2-6:1995

6、溫度變化試驗

環(huán)境試驗第2部分: 試驗方法試驗N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009

7、溫度/濕度組合循環(huán)試驗

環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗 GB/T 2423.34-2012，IEC 60068-2-38:2009

8、自由跌落試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ed:自由跌落 GB/T 2423.8-1995，IEC 60068-2-32:1990

9、機械沖擊試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ea和導則:沖擊 GB/T 2423.5-1995，IEC 60068-2-27:1987

10、碰撞試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Eb和導則:碰撞 GB/T 2423.6-1995 ，IEC 60068-2-29:1987

電工電子產(chǎn)品環(huán)境可靠性測試檢驗標準大全

11、傾跌與翻倒試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ec和導則:傾跌與翻倒 (主要用于設備型樣品) GB/T 2423.7-1995，IEC 60068-2-31:1982

12、砂塵試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗L：沙塵試驗 GB/T 2423.37-2006，IEC 60068-2-68:1994

13、鹽霧試驗

人造氣氛腐蝕試驗鹽霧試驗 GB/T 10125-2012，ISO 9227:2006

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分: 試驗方法試驗Ka：鹽霧 GB/T 2423.17-2008，IEC60068-2-11:1981

14、溫度沖擊

環(huán)境試驗第2部分: 試驗方法試驗N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009

15、外殼防護試驗

外殼防護等級（IP代碼） GB 4208-2008，IEC 60529:2001

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗R：水試驗方法和導則 GB/T 2423.38-2008，IEC 60068-2-18:2000

16、低溫/振動(正弦)綜合試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.35-2005，IEC 60068-2-50:1983

17、高溫/振動(正弦)綜合試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/BFc：散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.36-2005，IEC 60068-2-51:1983

18、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機）

綜合：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機）綜合 GB/T 2423.59-2008

19、（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）

綜合GB/T 2423.102-2008

20、可靠性試驗

設備可靠性試驗恒定失效率假設下的失效率與平均無故障時間的驗證試驗方案 GB/T 5080.7-1986，IEC 60605-7:1978

設備可靠性試驗恒定失效率假設的有效性檢驗 GB/T 5080.6-1996 ，IEC 60605-6:1989

設備可靠性試驗成功率的驗證試驗方案 GB/T 5080.5-1985 ，IEC 60605-5:1982

設備可靠性試驗可靠性測定試驗的點估計和區(qū)間估計方法 (指數(shù)分布) GB/T 5080.4-1985，IEC 60605-4:1978

可靠性試驗第2部分：試驗周期設計 GB/T 5080.2-2012，IEC 60605-2:1994

可靠性試驗第1部分：試驗條件和統(tǒng)計檢驗原理 GB/T 5080.1-2012，IEC 60300-3-5:2001

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