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第三方熱門檢測(cè)項(xiàng)目有哪些?元器件檢測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范

日期:2021-07-19 13:06:00 瀏覽量:2289 標(biāo)簽: 電子元器件檢測(cè)

第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)又稱公正檢驗(yàn),指兩個(gè)相互聯(lián)系的主體之外的某個(gè)客體,我們把它叫作第三方。常見(jiàn)的電子元器件有信號(hào)放大器、接收器、電容器、轉(zhuǎn)接頭、電源線、轉(zhuǎn)換器、數(shù)據(jù)連接線、網(wǎng)線、電路板、電阻、三極管、連接器、二極管等等,創(chuàng)芯檢測(cè)始終秉持"專業(yè),權(quán)威,高效,創(chuàng)新"的宗旨,重金購(gòu)置國(guó)際先進(jìn)的檢測(cè)設(shè)備,測(cè)試嚴(yán)格遵照國(guó)際檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)及方法,現(xiàn)已取得CNAS認(rèn)證并獲國(guó)際互認(rèn)資質(zhì),客戶群涵蓋海內(nèi)外多個(gè)國(guó)家和地區(qū),是國(guó)內(nèi)素質(zhì)過(guò)硬、知名度高的專業(yè)IC檢測(cè)機(jī)構(gòu)。

熱門檢測(cè)項(xiàng)目:

  • 成分分析

含量測(cè)定、含量檢測(cè)、材質(zhì)鑒定、定性分析、定量分析、異物、析出物、未知物、液體、固體、溶劑、粉末、顆粒

  • 配方分析

配方還原、配方研發(fā)、配方工藝、配方檢測(cè)、小樣調(diào)試、指導(dǎo)生產(chǎn)

  • 儀器分析

質(zhì)譜分析、色譜分析、光譜分析、掃描電鏡、能譜、差熱分析、核磁、hplc檢測(cè)、其他測(cè)試

  • 有害物質(zhì)檢測(cè)

微生物、重金屬、rohs、reach檢測(cè)、三聚氰胺、激素、農(nóng)殘、獸殘、黃曲霉毒素檢測(cè)、毒理檢測(cè)、voc 、TVOC等

  • 失效分析

斷裂、開裂、斷口 電路板、元器件、塑料、金屬材料、電容、焊接等

  • 元素分析

金屬元素、非金屬元素、重金屬、貴金屬、離子、元素、稀土元素、放射性元素、營(yíng)養(yǎng)元素硒等

  • 理化測(cè)試

純度、濃度、硬度、水分、灰分、PH值、比熱容、導(dǎo)熱系數(shù)、粘度、閃點(diǎn)、導(dǎo)熱率、粘度、細(xì)讀、外觀等

  • 性能檢測(cè)

力學(xué)性能、物理性能、化學(xué)性能、光學(xué)性能、環(huán)保性能、熱學(xué)性能、機(jī)械性能、電學(xué)性能等

  • 熱門試驗(yàn)

鹽霧試驗(yàn)、老化試驗(yàn)、拉拔試驗(yàn)、拉伸測(cè)試、高低溫試驗(yàn)、EMC測(cè)試、拉力測(cè)試等

第三方熱門檢測(cè)項(xiàng)目有哪些?元器件檢測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范

電子元器件檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):

GJB 548A 微電子器件試驗(yàn)方法和程序

GJB597A 半導(dǎo)體集成電路總規(guī)范

GB/T6798 半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測(cè)試方法的基本原理

GB/T4586 半導(dǎo)體器件分立器件第8部分:場(chǎng)效應(yīng)晶體管

GB/T 4023 半導(dǎo)體器件:分立器件和集成電路第2部分:整流二極管

GB/T2693 電子設(shè)備用固定電容器 部分:總規(guī)范

GB/T5729 電子設(shè)備用固定電阻器 部分:總規(guī)范

GB/T 2423.11 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fd:寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--一般要求

GJB 360A 電子及電氣元件試驗(yàn)方法

GJB 1420A 半導(dǎo)體集成電路外殼總規(guī)范

GJB 128A 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法

GJB 3157 半導(dǎo)體分立器件失效分析方法和程序

GJB 3233 半導(dǎo)體集成電路失效分析程序和方法

GJB 548B 微電子器件試驗(yàn)方法和程序

GJB 5914 各種質(zhì)量等級(jí)軍用半導(dǎo)體器件破壞性物理分析方法

GJB128A 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方發(fā)方法1071密封

GB/T17574 半導(dǎo)體器件集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路

GB/T4587 半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管

GJB360B 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn)

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深圳福田海關(guān)查獲大批侵權(quán)電路板,共計(jì)超過(guò)39萬(wàn)個(gè)

據(jù)海關(guān)總署微信平臺(tái)“海關(guān)發(fā)布”10日發(fā)布的消息,經(jīng)品牌權(quán)利人確認(rèn),深圳海關(guān)所屬福田海關(guān)此前在貨運(yùn)出口渠道查獲的一批共計(jì)391500個(gè)印刷電路板,侵犯了UL公司的“RU”商標(biāo)專用權(quán)。

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可靠性測(cè)試:常規(guī)的可靠性項(xiàng)目及類型介紹

可靠性試驗(yàn)是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性調(diào)查、分析和評(píng)價(jià)的一種手段。試驗(yàn)結(jié)果為故障分析、研究采取的糾正措施、判斷產(chǎn)品是否達(dá)到指標(biāo)要求提供依據(jù)。根據(jù)可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)所采用的方法和目的,可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)可以分為可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)和可靠性測(cè)定試驗(yàn)??煽啃詼y(cè)定試驗(yàn)是為測(cè)定可靠性特性或其量值而做的試驗(yàn),通常用來(lái)提供可靠性數(shù)據(jù)。可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)是用來(lái)驗(yàn)證設(shè)備的可靠性特征值是否符合其規(guī)定的可靠性要求的試驗(yàn),一般將可靠性鑒定和驗(yàn)收試驗(yàn)統(tǒng)稱為可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)。

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匯總:半導(dǎo)體失效分析測(cè)試的詳細(xì)步驟

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