IGBT短路測試：原理深度解析與實驗方法指南
日期：2024-03-07 16:23:26 瀏覽量：1557 標簽: IGBT檢測
IGBT（Insulated Gate Bipolar Transistor）是一種常用的功率半導體器件，具有開關速度快、損耗小等優(yōu)點，在工業(yè)、交通、醫(yī)療等領域廣泛應用。然而，IGBT在使用過程中可能會出現(xiàn)短路故障，嚴重影響設備的正常運行。因此，對IGBT進行短路測試是必不可少的。本文將深度解析IGBT短路測試的原理，并提供實驗方法指南，幫助讀者更好地了解和掌握這一重要的測試技術。
一、IGBT短路測試的意義
在評估設備性能方面，IGBT短路測試是不可或缺的。通過短路測試，可以準確評估設備在短路情況下的工作狀態(tài)、耐受能力和保護機制是否有效。
短路測試的核心目標是確定兩種常見的短路類型：橋臂內(nèi)短路和橋臂間短路。只有充分了解這些短路類型及其特征，才能針對性地設計保護措施，提高系統(tǒng)的可靠性和安全性。
二、橋臂內(nèi)短路測試
橋臂內(nèi)短路（直通）是一種硬件或軟件失效，導致短路回路中的電感量較小（100nH）的狀況。常用的短路保護手段是使用VCE(sat)檢測。
橋臂內(nèi)短路測試示意圖：通過調(diào)壓器和接觸器將母線電容電壓充至所需值，在關閉上管IGBT的門極后，使用粗短的銅排進行短路，然后對下管IGBT釋放一個單脈沖，形成直通狀態(tài)。
橋臂內(nèi)短路測試的注意事項：
應特別關注短路排的長度和粗細對測量結(jié)果的影響；
確保短路測試所需能量來自母線電容組；
上管IGBT一直處于關閉狀態(tài)，但是其二極管在短路電流續(xù)流方面起到重要作用；
測試需要測量下管的Vce、Vge和Ic三個物理量；
注意選擇正確的電流探頭位置，以獲取準確的電流波形。
三、橋臂間短路測試
橋臂間短路是由于相間短路或相對地短路引起的，短路回路中的電感較大（uH級別）?？刹捎肰CE(sat)檢測或霍爾檢測電流變化等方式進行短路保護。
在橋臂間短路測試中，電感量是不確定的，需要靈活應用不同的保護手段，結(jié)合具體情況進行分析和實驗。
四、短路測試實驗步驟
確定單脈沖寬度：在低電壓情況下，確認所發(fā)單脈沖的寬度，為后續(xù)實驗做準備。
發(fā)送單脈沖進行初步確認：將母線電壓調(diào)至20~30V，發(fā)送一個單脈沖，確認電流探頭方向和物理量測量的準確性，以及示波器捕捉能力。
調(diào)整母線電壓：將母線電壓調(diào)至額定值，斷開進線接觸器，并發(fā)送一個單脈沖，確認示波器能夠正確捕捉到該時刻。
合適的母線電壓設置：母線電壓應適當調(diào)整以避免出現(xiàn)奇怪的振蕩現(xiàn)象，對于不同規(guī)格的IGBT，應根據(jù)具體情況設置合理的母線電壓。
關注短路電流和Vce電壓：觀察短路電流的最大值，并與規(guī)格書中的數(shù)值進行比較，判斷是否過高或存在電流震蕩問題。同時關注Vce電壓，在退飽和開始計時至電流被關斷的時間內(nèi)應控制在10微秒以內(nèi)。
注意門極鉗位電路：門極鉗位電路對短路電流峰值有重要影響，需特別關注其性能，以確保安全。
注意環(huán)境溫度：環(huán)境溫度對實驗結(jié)果有顯著影響，應根據(jù)系統(tǒng)規(guī)格選擇適當?shù)臏囟葓?zhí)行實驗。
五、實驗結(jié)果分析
通過電流上升率di/dt可計算短路回路中的總電感量，并減去之前測得的雜散電感量，得到插入銅排的電感量。
關注短路電流的峰值，判斷是否過高且是否存在電流震蕩現(xiàn)象。
觀察退飽和所需的時間和關斷時Vce電壓的尖峰高度，判斷是否存在危險，并驗證有源鉗位是否正常工作。
門極電壓的評估需要謹慎，因為在測試中di/dt和du/dt都很大，門極探頭易造成不準確測量。
IGBT短路測試是保證設備正常運行的重要手段，本文對其原理進行了深入解析，并提供了實驗方法指南。在實際操作中，我們要注意測試步驟的正確執(zhí)行，并根據(jù)實驗結(jié)果進行進一步分析和優(yōu)化，以確保IGBT在短路情況下的穩(wěn)定可靠工作。只有通過充分的短路測試，我們才能更好地保障電力設備的運行效果和人員的安全。
