什么是高低溫環(huán)境測(cè)試？高低溫測(cè)試是用來(lái)確定產(chǎn)品在高溫或低溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)送、運(yùn)用的適應(yīng)性的辦法。實(shí)驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫或低溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)刻?；旧纤械漠a(chǎn)品都是在一定的溫度環(huán)境下存儲(chǔ)保存，或者工作運(yùn)行。有些環(huán)境下的溫度會(huì)不斷變化，時(shí)高時(shí)低。本文收集整理了一些資料，期望能對(duì)各位讀者有比較大的參閱價(jià)值。

高低溫循環(huán)測(cè)試

一般來(lái)講的話都是天的倍數(shù)，常見(jiàn)的就是72H，96H。要注意要求不一樣,時(shí)間不一樣有更少或是更高的。一般就是72，96H。

高低溫環(huán)境測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

GB_T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

GBT 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

IEC 60068-2-2 基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 第2-2部分:試驗(yàn) 試驗(yàn)B:干熱

IEC 60068-2-1：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)：低溫

應(yīng)用范圍

電子、元器件、電路板、通訊、LED、液晶屏、儀器儀表、電容、車輛、醫(yī)藥、塑膠、金屬、化學(xué)、建材等行業(yè)產(chǎn)品。

高低溫實(shí)驗(yàn)箱主要能夠展開(kāi)以下項(xiàng)目實(shí)驗(yàn)：

（1）高溫實(shí)驗(yàn)

實(shí)驗(yàn)意圖：用來(lái)查核實(shí)驗(yàn)樣品在高溫條件下儲(chǔ)存或運(yùn)用的適應(yīng)性。應(yīng)用于比如像熱帶天氣或煉鋼廠等高溫環(huán)境下作業(yè)的儀器、設(shè)備等。

實(shí)驗(yàn)設(shè)備：高低溫（濕熱）實(shí)驗(yàn)箱。

實(shí)驗(yàn)條件：一般選定一穩(wěn)定的溫度應(yīng)力和堅(jiān)持時(shí)刻。

優(yōu)選常用溫度：200℃，175℃，155℃，125℃，100℃，85℃，70℃，55℃等；

優(yōu)選常用的實(shí)驗(yàn)時(shí)刻有：2h，16h，72h，96h等。

（2）低溫實(shí)驗(yàn)

實(shí)驗(yàn)意圖：用來(lái)查核實(shí)驗(yàn)樣品在低溫條件下儲(chǔ)存或運(yùn)用的適應(yīng)性。常用于產(chǎn)品在開(kāi)發(fā)階段的型式實(shí)驗(yàn)、元器件的挑選實(shí)驗(yàn)等。

實(shí)驗(yàn)設(shè)備：高低溫（濕熱）實(shí)驗(yàn)箱

實(shí)驗(yàn)條件：一般選定一穩(wěn)定的溫度和實(shí)驗(yàn)時(shí)刻。

優(yōu)選常用的溫度有：- 65℃，-55℃，-40℃，-25℃，-10℃，-5℃，+5℃等；

優(yōu)選常用的實(shí)驗(yàn)時(shí)刻有：2h，16h，72h，96h等。

（3）快速變溫實(shí)驗(yàn)

實(shí)驗(yàn)意圖：快速變溫是具有規(guī)則溫度改變率的溫度改變，往往模仿晝夜溫差較大的區(qū)域環(huán)境，也可用于壽數(shù)實(shí)驗(yàn)，評(píng)價(jià)元器件或產(chǎn)品的外觀、機(jī)械功能和電氣功能。

測(cè)試設(shè)備：快速變溫實(shí)驗(yàn)箱。

測(cè)試條件：

1）溫度改變規(guī)模的高低溫值；

2）試樣在高低溫下的保留時(shí)刻；

3）從低溫到高溫或在高溫文低溫之間的溫度改變率；

4）條件測(cè)試周期數(shù)。

（4）溫度沖擊實(shí)驗(yàn)

測(cè)試意圖：用于評(píng)價(jià)產(chǎn)品對(duì)環(huán)境溫度快速改變的適應(yīng)性。熱沖擊實(shí)驗(yàn)的意圖與溫度循環(huán)實(shí)驗(yàn)的意圖根本相同，但熱沖擊實(shí)驗(yàn)的條件比溫度循環(huán)實(shí)驗(yàn)的條件嚴(yán)苛得多。

測(cè)試設(shè)備：兩箱冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)箱和三箱冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)箱。

測(cè)試條件：

1)溫度改變規(guī)模的高低溫值；

2)試樣在高低溫下的保留時(shí)刻；

3)從低溫到高溫或從高溫到低溫改變時(shí)刻；

4)條件測(cè)試周期數(shù)。

（5）穩(wěn)定溫濕度實(shí)驗(yàn)

實(shí)驗(yàn)意圖：查核產(chǎn)品在濕熱條件下運(yùn)用和儲(chǔ)存的適應(yīng)性，觀察實(shí)驗(yàn)樣品在穩(wěn)定溫度、無(wú)凝露、規(guī)則時(shí)刻高濕環(huán)境下的影響，以加快方法評(píng)價(jià)實(shí)驗(yàn)樣品耐濕熱劣化的效應(yīng)。

實(shí)驗(yàn)設(shè)備：恒溫恒濕箱。

實(shí)驗(yàn)條件：實(shí)驗(yàn)溫度；實(shí)驗(yàn)濕度；實(shí)驗(yàn)時(shí)刻。

優(yōu)選常用的溫度/濕度有： 40℃，百分之85；40℃，百分之93；85℃，百分之85等；

優(yōu)選常用的實(shí)驗(yàn)時(shí)刻有：48h，96h等

（6）溫濕度循環(huán)實(shí)驗(yàn)

實(shí)驗(yàn)意圖：適用于確定實(shí)驗(yàn)樣品在溫度循環(huán)改變、外表發(fā)生凝露的濕熱條件下運(yùn)用和儲(chǔ)存的適應(yīng)性。

實(shí)驗(yàn)設(shè)備：高低溫（濕熱）實(shí)驗(yàn)箱。

實(shí)驗(yàn)條件：選定溫度、濕度、循環(huán)次數(shù)、溫度改變率、持續(xù)時(shí)刻。

高低溫環(huán)境測(cè)試測(cè)試費(fèi)用

高低溫測(cè)試的價(jià)格是按測(cè)試時(shí)長(zhǎng)來(lái)報(bào)價(jià)，不同大小的產(chǎn)品對(duì)應(yīng)使用不同大小的溫度箱，不同大小的溫度箱有不同的測(cè)試價(jià)格，按照時(shí)長(zhǎng)計(jì)算。

以上是創(chuàng)芯檢測(cè)小編整理的高低溫測(cè)試相關(guān)內(nèi)容，希望對(duì)您有所幫助。我公司擁有專業(yè)工程師及行業(yè)精英團(tuán)隊(duì)，建有標(biāo)準(zhǔn)化實(shí)驗(yàn)室3個(gè)，實(shí)驗(yàn)室面積1800平米以上，可承接電子元器件測(cè)試驗(yàn)證、IC真假鑒別，產(chǎn)品設(shè)計(jì)選料、失效分析，功能檢測(cè)、工廠來(lái)料檢驗(yàn)以及編帶等多種測(cè)試項(xiàng)目。