在早期失效階段，有缺陷的、受污染的或處于臨界狀態(tài)的電子元器件會在這個時期失效而暴露出來。這個階段時間很短，有的元器件僅幾天便會失效，早早地便被淘汰。正常失效期為元器件的正常工作階段，也是元器件的壽命期限。本文收集整理了一些資料，期望能對各位讀者有比較大的參閱價值。
_20221220145934_453.jpg "電子元器件常見失效階段包括哪些？")
大量同類元器件的失效可以分成三個階段：
1）早期失效期
新制造的電子器件，剛投入使用一段時間叫做早期失效。早期失效的特點是失效率高，但隨著工作時間的增加而迅速降低。這一段的失效原因有的是制造器件的原材料的缺陷造成；有的是元器件的生產(chǎn)過程中工藝措施不當造成的。
總的來說，早期失效是元器件本身設計和制造的缺陷而隱藏在內(nèi)部的一種潛在故障。在使用中會繼續(xù)惡化，故障暴露出來而造成的失效。所以元器件的早期失效對使用者來說是十分有害的。在整機生產(chǎn)的工藝過程中，元器的老化篩選的主要目就是加速早期失效，使整機出廠前就進入到正常的使用階段，篩選掉早期失效的元器件，保證整機的可靠工作。
2）偶然失效期
電子元器件在早期失效器后，就進入到偶然失效期。這一階段的特點是失效率低而穩(wěn)定，而表現(xiàn)的是偶然性質(zhì)。這是元器件最好的工作階段。因為這一段使用時間長，所以也叫使用壽命期。一個好的集成電路，其偶然失效可達百萬小時以上。
在此期間的失效原因，可以看成是在某一時刻元器件所積累的應力（指對器件的功能有影響的各種因素，如溫度，電壓，電流和機械應力等）超過元器件對抗這些應力的強度。一般有下列三種情況：遭受突然的機械沖擊或熱沖擊引起引線斷脫等；因為大電流引起的結(jié)的損壞；環(huán)境變化超過了適用范圍，使元器件特性變化過大而不能工作，甚至失效。
對于上述情況，應從最壞的情況出發(fā)，考慮到元器件參數(shù)的可能變化的范圍進行電路設計，并考慮一些具體措施，如散熱通風措施和防電磁干擾措施等，以避免環(huán)境變化超過適用范圍。
3）損耗失效期
元器件經(jīng)過正常使用其后，由于老化，損耗，磨損和疲勞等原因，失效率隨著工作時間的增加而上升，這一階段叫做損耗失效期，又叫晚期失效期。
損耗失效主要是由于材料的化學和物理變化引起的，如管子內(nèi)部引線鍵合點表面長期氧化而表面氧化使電阻增大，導致熱量過大而使鍵合點開路；又如表面化學反應，改變電子空穴的分布，產(chǎn)生反型層，形成導電溝道，使反向電流增大，參數(shù)變壞而使器件失效等。損耗失效是正常的自然規(guī)律，表明元器件已到額定使用期，對此采取的措施是定期更換。
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