集成電路 TUSB4020BIPHPR 失效分析報(bào)告
日期:2024-11-04 16:36:45 瀏覽量:316 作者:創(chuàng)芯在線檢測(cè)中心
綜上測(cè)試分析,推測(cè)因ESD/EOS導(dǎo)致失效品下層電路損壞而引起漏電失效。
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綜上測(cè)試分析,推測(cè)因ESD/EOS導(dǎo)致失效品下層電路損壞而引起漏電失效。
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