PIC12F508-I/P 編程燒錄報(bào)告
日期:2023-07-31 11:30:54 瀏覽量:810 作者:創(chuàng)芯在線檢測中心
使用西爾特編程器 6100N 對芯片進(jìn)行了以下測試: -管腳連續(xù)性:芯片插入檢查,防止芯片意外損壞。 -擦除:將芯片擦除至空白狀態(tài)。這種操作只能在可以電擦除的芯片上執(zhí)行。 -編程:使用隨機(jī)數(shù)據(jù)對設(shè)備進(jìn)行編程。 -驗(yàn)證:該函數(shù)比較緩沖區(qū)的內(nèi)容與芯片的內(nèi)容。如果有任何差異,驗(yàn)證將停止,并將顯示失敗消息。 只有通過驗(yàn)證的芯片才能被識(shí)別為被正確編程的芯片。 -擦除:將芯片擦除至空白狀態(tài)。這種操作只能在可以電擦除的芯片上執(zhí)行。 -查空測試:確保設(shè)備上沒有程序