1個(gè)回復(fù)

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  功能測試主要測試芯片的關(guān)鍵性功能能否實(shí)現(xiàn)，測試參數(shù)根據(jù)芯片的類型來選取。對(duì)照官方規(guī)格書，做關(guān)鍵的功能測試，只測1-3個(gè)參數(shù)內(nèi)，具體看型號(hào)而定，如有指定參數(shù)，麻煩請(qǐng)?zhí)崆案嬷?

  2024年04月29日 15:01