金屬材料失效分析,是對(duì)喪失原有功能的金屬構(gòu)件或設(shè)備損壞原因進(jìn)行分析研究的技術(shù)。對(duì)金屬材料失效引發(fā)的重大事故進(jìn)行技術(shù)分析是一個(gè)復(fù)雜的過(guò)程,不僅涉及宏觀分析、微觀結(jié)構(gòu)分析、金相組織分析、化學(xué)成分分析、硬度測(cè)試、力學(xué)性能測(cè)試、應(yīng)力測(cè)試等多種分析測(cè)試技術(shù),而且需要結(jié)合大量測(cè)試數(shù)據(jù),并且綜合得到的信息,包括設(shè)計(jì)方案、熱處理情況及使用環(huán)境等,進(jìn)行全面系統(tǒng)性的討論分析,最終歸納和推斷引起失效的主要原因。接下來(lái)主要介紹脆性斷裂和韌性斷裂的判斷依據(jù),一起來(lái)看看吧。
當(dāng)電子元器件儲(chǔ)存環(huán)境濕度過(guò)高時(shí),濕氣會(huì)透過(guò)封裝材料及元器件的接合面進(jìn)入到IC器件的內(nèi)部,造成內(nèi)部電路氧化腐蝕短路,以及組焊接過(guò)程中的高溫會(huì)使進(jìn)入IC內(nèi)部的潮濕氣體受熱膨脹產(chǎn)生壓力,使塑料從芯片或引腳框上的內(nèi)部分離(脫層)、線捆接損傷、芯片損傷、內(nèi)部裂紋和延伸到元件表面的裂紋,甚至發(fā)生元件鼓脹和爆裂,這將導(dǎo)致組裝件返修甚至報(bào)廢。更為重要的是那些看不見(jiàn)的、潛在的缺陷會(huì)溶入到產(chǎn)品中去,使產(chǎn)品的可靠性出現(xiàn)問(wèn)題。其它IC類電子元件,大都也存在潮濕的危害問(wèn)題。電子元件烘干除氧化就顯得非常重要了。本文收集整理
中性鹽霧試驗(yàn)和交變鹽霧試驗(yàn)是鹽霧試驗(yàn)中使用頻率較多的兩種腐蝕環(huán)境試驗(yàn)類型。大多數(shù)情況下,中性鹽霧試驗(yàn)使用的是標(biāo)準(zhǔn)鹽霧試驗(yàn)箱,交變鹽霧試驗(yàn)過(guò)程更為復(fù)雜,使用的是復(fù)合鹽霧試驗(yàn)箱。中性鹽霧試驗(yàn)與交變鹽霧試驗(yàn)有哪些區(qū)別?鹽霧試驗(yàn)除了中性鹽霧試驗(yàn),還包括酸性鹽霧試驗(yàn)、醋酸鹽霧試驗(yàn)等,而中性鹽霧試驗(yàn)和交變鹽霧試驗(yàn)也是做鹽霧試驗(yàn)中使用率很頻率的兩種腐蝕環(huán)境試驗(yàn)類型,那它們有哪些區(qū)別呢?下面一起來(lái)看看吧!
無(wú)損檢測(cè)分為常規(guī)檢測(cè)技術(shù)和非常規(guī)檢測(cè)技術(shù)。常規(guī)檢測(cè)技術(shù)有:超聲檢測(cè)UltrasonicTesting(縮寫UT)、射線檢測(cè)Radiographic Testing(縮寫RT)、磁粉檢測(cè)Magnetic particle Testing(縮寫MT)、滲透檢驗(yàn)PenetrantTesting (縮寫PT)、渦流檢測(cè)Eddy current Testing(縮寫ET)。非常規(guī)無(wú)損檢測(cè)技術(shù)有:聲發(fā)射Acoustic Emission(縮寫AE)、紅外檢測(cè)Infrared(縮寫IR)、激光全息檢測(cè)Holo
金相分析是通過(guò)光學(xué)顯微鏡對(duì)研磨、拋光和浸蝕處理后的試樣進(jìn)行觀察,可以分析試樣的真實(shí)顯微組織形貌特征,是材料力學(xué)性能研究的基礎(chǔ)。從一定程度來(lái)說(shuō),普通鋼種金相檢驗(yàn)難度并不大,但隨著新材料、新技術(shù)的應(yīng)用,檢驗(yàn)范圍不斷增大,試樣種類也在不斷增加,需從業(yè)人員有更多應(yīng)對(duì)措施和技術(shù)方法。
電偶腐蝕也叫異金屬腐蝕或接觸腐蝕,是指兩種不同電化學(xué)性質(zhì)的材料在與周圍環(huán)境介質(zhì)構(gòu)成回路時(shí),電位較正的金屬腐蝕速率減緩,而電位較負(fù)的金屬腐蝕加速的現(xiàn)象。材料或構(gòu)件的電偶腐蝕評(píng)價(jià)方法主要包括暴露評(píng)價(jià)實(shí)驗(yàn)、電化學(xué)測(cè)量等。本文收集整理了一些資料,期望能對(duì)各位讀者有比較大的參閱價(jià)值。
鹽霧顆粒越細(xì),所形成的表面積越大,被吸附的氧量越多,腐蝕性也越強(qiáng)。自然界中90%以上鹽霧顆粒的直徑為1微米以下,研究成果表明:直徑1微米的鹽霧顆粒表面所吸附的氧量與顆粒內(nèi)部溶解的氧量是相對(duì)平衡的。
電容器是一種容納電荷的器件,是電子設(shè)備中大量使用的電子元件之一,廣泛應(yīng)用于電路中的隔直通交,耦合,旁路,濾波,調(diào)諧回路,能量轉(zhuǎn)換,控制等方面。關(guān)于電容器的檢測(cè),主要分為三大類:固定電容器的檢測(cè)、電解電容器的檢測(cè)、可變電容器的檢測(cè)。電容器的檢測(cè)方法有哪些?檢測(cè)技術(shù)在各行各業(yè)中均占據(jù)重要地位,通過(guò)檢測(cè),我們能夠一定程度上保證產(chǎn)品質(zhì)量。
對(duì)于生產(chǎn)廠商來(lái)說(shuō),保證出產(chǎn)的每個(gè)元器件的安全和可靠是必要的。隨著用戶對(duì)電子產(chǎn)品的質(zhì)量要求越來(lái)越高,但是在加工過(guò)程中會(huì)出現(xiàn)不可避免的瑕疵。在這個(gè)時(shí)候就需要對(duì)出產(chǎn)的元器件進(jìn)行各種方面的檢測(cè),電子產(chǎn)品的質(zhì)量狀況對(duì)于行業(yè)發(fā)展和社會(huì)穩(wěn)定也是起著至關(guān)重要的作用。下面主要對(duì)電子元器件dpa分析及檢測(cè)重要性進(jìn)行簡(jiǎn)要分析,供大家參考。
PCB已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的最為重要而關(guān)鍵的部分,其質(zhì)量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定了整機(jī)設(shè)備的質(zhì)量與可靠性。如果PCB存在缺陷或制造問(wèn)題,則可能導(dǎo)致最終產(chǎn)品出現(xiàn)故障并造成不便。在這些情況下,制造商將不得不召回這些設(shè)備,并花費(fèi)更多的時(shí)間和資源來(lái)修復(fù)故障。PCB測(cè)試成為電路板制造過(guò)程中不可或缺的一部分,它及時(shí)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題,協(xié)助工作人員快速處理,保證PCB的高品質(zhì)。
- IC真?zhèn)螜z測(cè)
- DPA檢測(cè)
- 失效分析
- 開(kāi)發(fā)及功能驗(yàn)證
- 材料分析
- 可靠性驗(yàn)證
- 化學(xué)分析
- 外觀檢測(cè)
- X-Ray檢測(cè)
- 功能檢測(cè)
- SAT檢測(cè)
- 可焊性測(cè)試
- 開(kāi)蓋測(cè)試
- 丙酮測(cè)試
- 刮擦測(cè)試
- HCT測(cè)試
- 切片測(cè)試
- 電子顯微鏡分析
- 電特性測(cè)試
- FPGA開(kāi)發(fā)
- 單片機(jī)開(kāi)發(fā)
- 編程燒錄
- 掃描電鏡SEM
- 穿透電鏡TEM
- 高低溫試驗(yàn)
- 冷熱沖擊
- 快速溫變ESS
- 溫度循環(huán)
- ROHS檢測(cè)
- 無(wú)鉛測(cè)試