百格測(cè)試用于均勻劃出一定規(guī)格尺寸的方格,通過(guò)評(píng)定方格內(nèi)涂膜的完整程度來(lái)評(píng)定涂膜對(duì)基材附著程度,以‘級(jí)’表示。它主要用于有機(jī)涂料劃格法附著力的測(cè)定,不僅適用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于各種條件下的施工現(xiàn)場(chǎng)。一般而言是測(cè)試對(duì)象在經(jīng)過(guò)涂裝之后測(cè)試其附著度的工具。按照日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)(JIS),分為1~5級(jí),級(jí)數(shù)越高,要求越嚴(yán)格,當(dāng)客戶規(guī)范當(dāng)中要求是第5級(jí)時(shí),表示完全不能有脫落。
HAST高度加速的溫度和濕度壓力測(cè)試(HAST)是一個(gè)高度加速,以溫度和濕度為基礎(chǔ)的電子元件可靠性試驗(yàn)方法。環(huán)境參數(shù), HAST也稱(chēng)為壓力測(cè)試(PCT)或不飽和壓力試驗(yàn)(USPCT)。其目的是評(píng)估測(cè)試樣本,通過(guò)將試驗(yàn)室中的水蒸汽壓力增加到一定的耐濕性。比試樣內(nèi)部的部分水蒸汽壓力高得多。這個(gè)過(guò)程暫時(shí)加速水分滲入樣品中。
隨著半導(dǎo)體可靠性的提高,前大多半導(dǎo)體器件能承受長(zhǎng)期的THB試驗(yàn)而不會(huì)產(chǎn)生失效,因此用來(lái)確定成品質(zhì)量的測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。 原理: 試樣在高溫高濕度以及偏壓的苛刻環(huán)境下,加速濕氣穿過(guò)外部的保護(hù)層,或沿著金屬和外保護(hù)層的分界面穿透,造成試樣的失效。
丙酮(acetone,CH3COCH3),又名二甲基酮,為最簡(jiǎn)單的飽和酮。是一種無(wú)色透明液體,有特殊的辛辣氣味。易溶于水和甲醇、乙醇、乙醚、氯仿、吡啶等有機(jī)溶劑。易燃、易揮發(fā),化學(xué)性質(zhì)較活潑。丙酮是重要的有機(jī)合成原料,用于生產(chǎn)環(huán)氧樹(shù)脂,聚碳酸酯,有機(jī)玻璃,醫(yī)藥,農(nóng)藥等。亦是良好溶劑,用于涂料、黏結(jié)劑、鋼瓶乙炔等。也用作稀釋劑,清洗劑,萃取劑。還是制造醋酐、雙丙酮醇、氯仿、碘仿、環(huán)氧樹(shù)脂、聚異戊二烯橡膠、甲基丙烯酸甲酯等的重要原料。在無(wú)煙火藥、賽璐珞、醋酸纖維、噴漆等工業(yè)中用作溶劑。
眼圖測(cè)試是用來(lái)測(cè)試信號(hào)品質(zhì)優(yōu)劣的一種測(cè)試,數(shù)字信號(hào)的眼圖中包含了豐富的信息,可以體現(xiàn)數(shù)字信號(hào)的整體特征,能夠很好地評(píng)估數(shù)字信號(hào)的質(zhì)量,因而眼圖的分析是數(shù)字系統(tǒng)信號(hào)完整性分析的關(guān)鍵之一。
對(duì)于電子線路中所標(biāo)稱(chēng)的噪聲,可以概括地認(rèn)為,它是對(duì)目的信號(hào)以外的所有信號(hào)的一個(gè)總稱(chēng)。最初人們把造成收音機(jī)這類(lèi)音響設(shè)備所發(fā)出噪聲的那些電子信號(hào),稱(chēng)為噪聲。但是,一些非目的的電子信號(hào)對(duì)電子線路造成的后果并非都和聲音有關(guān),因而,后來(lái)人們逐步擴(kuò)大了噪聲概念。例如,把造成視屏幕有白班呀條紋的那些電子信號(hào)也稱(chēng)為噪聲??赡芤哉f(shuō),電路中除目的的信號(hào)以外的一切信號(hào),不管它對(duì)電路是否造成影響,都可稱(chēng)為噪聲。
溫升測(cè)試是電器產(chǎn)品型式試驗(yàn)中常規(guī)的試驗(yàn)項(xiàng)目,溫升試驗(yàn)的目的是測(cè)試電器產(chǎn)品及部件的溫度變化情況,以確定電器產(chǎn)品或部件是否符合標(biāo)準(zhǔn)的要求。隨著電器產(chǎn)器日新月異的發(fā)展,溫升試驗(yàn)對(duì)電器設(shè)備及部件產(chǎn)品安全性變得越來(lái)越重要。
電氣性能通常是定義于電氣元件的額定電壓、電流、有功功率、無(wú)功功率、電阻、電容、電感、電導(dǎo)等性能指標(biāo)。半導(dǎo)體則涵蓋面更廣,如直流放大倍數(shù)、交流放大倍數(shù)、整流電流、反向擊穿電壓、正向?qū)妷?、結(jié)電容、噪聲系數(shù)、特征頻率、截止頻率、耗散功率等。電性能測(cè)試包括導(dǎo)線電阻、絕緣電阻、介質(zhì)損耗角正確值、電容等導(dǎo)體或絕緣品質(zhì)的基本參數(shù)測(cè)試。電纜的工作電壓越高,對(duì)其電性能要求也越嚴(yán)格。
耐壓測(cè)試(puncture test)是檢驗(yàn)電器、電氣設(shè)備、電氣裝置、電氣線路和電工安全用具等承受過(guò)電壓能力的主要方法之一。 耐壓測(cè)試是偵測(cè)流過(guò)被測(cè)物絕緣系統(tǒng)之漏電流,以高于工作電壓之電壓施加于絕緣系統(tǒng):而電源泄漏電流(接觸電流)則是在被測(cè)物正常操作下,以最不利的條件(電壓、頻率)對(duì)被測(cè)物量測(cè)漏電流。簡(jiǎn)單地說(shuō),耐壓測(cè)試之漏電流為無(wú)工作電源下所量測(cè)之漏電流,電源泄漏電流(接觸電流)為正常操作下所量測(cè)之漏電流。
固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和電解液的聯(lián)合作用下逐漸形成導(dǎo)電通路的過(guò)程,稱(chēng)為漏電起痕。而絕緣材料表面抗漏電起痕的能力,稱(chēng)為耐漏電起痕。
- IC真?zhèn)螜z測(cè)
- DPA檢測(cè)
- 失效分析
- 開(kāi)發(fā)及功能驗(yàn)證
- 材料分析
- 可靠性驗(yàn)證
- 化學(xué)分析
- 外觀檢測(cè)
- X-Ray檢測(cè)
- 功能檢測(cè)
- SAT檢測(cè)
- 可焊性測(cè)試
- 開(kāi)蓋測(cè)試
- 丙酮測(cè)試
- 刮擦測(cè)試
- HCT測(cè)試
- 切片測(cè)試
- 電子顯微鏡分析
- 電特性測(cè)試
- FPGA開(kāi)發(fā)
- 單片機(jī)開(kāi)發(fā)
- 編程燒錄
- 掃描電鏡SEM
- 穿透電鏡TEM
- 高低溫試驗(yàn)
- 冷熱沖擊
- 快速溫變ESS
- 溫度循環(huán)
- ROHS檢測(cè)
- 無(wú)鉛測(cè)試