電子元器件有很多,比如電阻、電容、芯片、二極管和三極管等等。電子元器件的應(yīng)用領(lǐng)域也很廣,比如晶閘管(可控硅),電感線圈,變壓器,晶體振蕩器,耳機(jī),電阻,電容等,這些都利用了電子元器件。電子產(chǎn)品檢驗(yàn)是現(xiàn)代電子企業(yè)生產(chǎn)中必不可少的質(zhì)量監(jiān)控手段,主要起到對(duì)產(chǎn)品生產(chǎn)的過(guò)程控制、質(zhì)量把關(guān)、判定產(chǎn)品的合格性等作用。下面主要介紹電子元器件品質(zhì)檢測(cè)的相關(guān)內(nèi)容,一起來(lái)看看吧!
電子元器件檢測(cè)是檢測(cè)服務(wù)行業(yè)技術(shù)在電子信息產(chǎn)業(yè)中的運(yùn)用,是電子元器件具體產(chǎn)業(yè)鏈中的重要環(huán)節(jié),檢測(cè)服務(wù)技術(shù)水平與電子元器件質(zhì)量息息相關(guān)。特別對(duì)初學(xué)者來(lái)說(shuō),熟練掌握常用元器件的檢測(cè)方法和經(jīng)驗(yàn)很有必要,以下對(duì)常用電子元器件的檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)和方法進(jìn)行介紹供對(duì)考。
MOS管做為電壓驅(qū)動(dòng)大電流型器件,在電路尤其是動(dòng)力系統(tǒng)中大量應(yīng)用,MOS管有一些特性在實(shí)際應(yīng)用中是我們應(yīng)該特別注意的。
MOS管學(xué)名是場(chǎng)效應(yīng)管,是金屬-氧化物-半導(dǎo)體型場(chǎng)效應(yīng)管,屬于絕緣柵型。MOS管為什么會(huì)被靜電擊穿?靜電擊穿是指擊穿MOS管G極的那層絕緣層嗎?擊穿就一定短路了嗎?JFET管靜電擊穿又是怎么回事?
缺芯大潮不休不止,元旦前后又有幾個(gè)原廠的漲價(jià)生效,這其中有的在去年第四季度公布,有的是剛剛公布。這批原廠漲價(jià),剛好對(duì)應(yīng)新一輪晶圓代工漲價(jià),這次又是聯(lián)電“戲最多”。除此以外,近期的存儲(chǔ)市場(chǎng)也因疫情出現(xiàn)變數(shù),但相比晶圓代工,影響較為有限。
芯片質(zhì)量好壞主要是由市場(chǎng),性能和可靠性三要素決定的。首先,在芯片的開(kāi)發(fā)前期,需要對(duì)市場(chǎng)進(jìn)行充分調(diào)研,才能定義出符合客戶需求的SPEC;其次是性能,IC設(shè)計(jì)工程師設(shè)計(jì)出來(lái)的電路需要通過(guò)designer仿真,DFT電路驗(yàn)證,實(shí)驗(yàn)室樣品評(píng)估,及樣品出貨前的FT,才能認(rèn)為性能符合前期定義的要求;最后是可靠性,由于經(jīng)過(guò)測(cè)試的芯片只能保證客戶在剛拿到樣品的時(shí)候是好的,所以還需要進(jìn)行一系列應(yīng)力測(cè)試,模擬客戶端一些嚴(yán)苛使用條件對(duì)芯片的沖擊,以評(píng)估芯片的壽命及可能存在的質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)。
一般數(shù)字電路只要設(shè)計(jì)沒(méi)有問(wèn)題,數(shù)字電路是比較穩(wěn)定的。最容易出問(wèn)題的是那些分離元件,比如晶體管等等。所以在設(shè)計(jì)中最好用比較成熟的電路和集成電路模塊,這樣會(huì)保證系統(tǒng)的穩(wěn)定性。針對(duì)電子產(chǎn)品故障現(xiàn)象,可以通過(guò)觀察、聽(tīng)覺(jué)、噢覺(jué)和觸覺(jué)去處理故障元器件,省去許多不必要的測(cè)試手段。如果上述方法都不奏效,就需要使用儀器儀表對(duì)可疑元件和有關(guān)電路進(jìn)行測(cè)試,找出故障點(diǎn)。當(dāng)某些元器件發(fā)生故障以后,通常會(huì)造成整個(gè)或個(gè)別部分電路停機(jī),使之無(wú)法工作,對(duì)電子產(chǎn)品產(chǎn)生不正常的變化,故對(duì)元器件故障的判斷與維修是一個(gè)十分重要的步驟。
電子設(shè)備中使用著大量各種類型的電子元器件,設(shè)備發(fā)生故障大多是由于電子元器件失效或損壞引起的。失效分析在產(chǎn)品的可靠性質(zhì)量保證和提高中發(fā)揮著重要作用,在產(chǎn)品的研發(fā)、生產(chǎn)、使用中都需要引入失效分析工作。下面是部分常見(jiàn)電子元器件失效檢測(cè)整理的相關(guān)內(nèi)容,供大家參考。
語(yǔ)音芯片是可以存儲(chǔ)控制播放語(yǔ)音的集成電路,英文名為Speech IC,是內(nèi)置少量存儲(chǔ)空間,1Mbit-4Mbit,存儲(chǔ)時(shí)間為40-160秒的,可由按鍵控制或MCU控制的、直接發(fā)聲的集成電路芯片。也是將語(yǔ)音信號(hào)通過(guò)采樣轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào),存儲(chǔ)在集成電路的ROM中,再通過(guò)電路將ROM中的數(shù)字還原成語(yǔ)音信號(hào)。從名字的意義上,就可以看出,它是一種在電子產(chǎn)品的基礎(chǔ)上增加語(yǔ)音的功能,也就是說(shuō)把錄入的語(yǔ)音通過(guò)改芯片進(jìn)行處理后通過(guò)喇叭播放出來(lái)。
芯片燒錄的方法有很多,在大規(guī)模生產(chǎn)中,還是以燒錄器燒錄為主。使用燒錄器燒錄,就都得使用到燒錄座。每個(gè)燒錄座的使用次數(shù)就不能得到有效的監(jiān)控,一旦超過(guò)燒錄座的使用壽命,就沒(méi)辦法保證芯片的燒錄品質(zhì)。而燒錄座也不具備偵測(cè)該燒錄座與所需燒寫的芯片的是否匹配的功能,那么該如何檢測(cè)芯片是否能燒錄?
- IC真?zhèn)螜z測(cè)
- DPA檢測(cè)
- 失效分析
- 開(kāi)發(fā)及功能驗(yàn)證
- 材料分析
- 可靠性驗(yàn)證
- 化學(xué)分析
- 外觀檢測(cè)
- X-Ray檢測(cè)
- 功能檢測(cè)
- SAT檢測(cè)
- 可焊性測(cè)試
- 開(kāi)蓋測(cè)試
- 丙酮測(cè)試
- 刮擦測(cè)試
- HCT測(cè)試
- 切片測(cè)試
- 電子顯微鏡分析
- 電特性測(cè)試
- FPGA開(kāi)發(fā)
- 單片機(jī)開(kāi)發(fā)
- 編程燒錄
- 掃描電鏡SEM
- 穿透電鏡TEM
- 高低溫試驗(yàn)
- 冷熱沖擊
- 快速溫變ESS
- 溫度循環(huán)
- ROHS檢測(cè)
- 無(wú)鉛測(cè)試