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電子元件的發(fā)展歷史實(shí)際上是電子發(fā)展的簡(jiǎn)史。電子技術(shù)是一種新技術(shù)，在二十世紀(jì)，它發(fā)展最快，使用最廣泛，它已成為現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)發(fā)展的重要標(biāo)志。為了促進(jìn)電子信息技術(shù)的進(jìn)一步發(fā)展，就要提高電子元器件的可靠性，因此掌握電子元器件失效分析的技術(shù)就變得十分必要。

2022-02-23 16:27:27

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首先看看什么是老化測(cè)試？在老化測(cè)試期間，特殊老化電路板上的組件會(huì)承受等于或高于其額定工作條件的壓力，以消除在額定壽命之前過(guò)早失效的任何組件。這些測(cè)試條件包括溫度、電壓/電流、操作頻率或任何其他被指定為上限的測(cè)試條件。這些類(lèi)型的壓力測(cè)試有時(shí)被稱為加速壽命測(cè)試（HALT/HASS 的一個(gè)子集），因?yàn)樗鼈兡M組件長(zhǎng)時(shí)間在極端條件下的運(yùn)行。

2022-02-22 15:47:10

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什么是UV測(cè)試？UV測(cè)試又稱UV老化測(cè)試，是模擬產(chǎn)品在現(xiàn)實(shí)使用條件中涉及到的各種因素對(duì)產(chǎn)品產(chǎn)生老化的情況進(jìn)行相應(yīng)條件加強(qiáng)實(shí)驗(yàn)的過(guò)程，它可以再現(xiàn)陽(yáng)光、雨水和露水所產(chǎn)生的破壞，短時(shí)間內(nèi)得到產(chǎn)品的使用壽命。設(shè)備通過(guò)將待測(cè)材料曝露在經(jīng)過(guò)控制的陽(yáng)光和濕氣的交互循環(huán)中，同時(shí)提高溫度的方式來(lái)進(jìn)行試驗(yàn)。

2022-02-22 15:32:17

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無(wú)損檢測(cè)是利用物質(zhì)的聲、光、磁和電等特性，在不損害或不影響被檢測(cè)對(duì)象使用性能的前提下，檢測(cè)被檢對(duì)象中是否存在缺陷或不均勻性，給出缺陷大小，位置，性質(zhì)和數(shù)量等信息。隨著檢測(cè)要求的不斷提高，無(wú)損檢測(cè)技術(shù)已廣泛采用數(shù)字技術(shù)并已逐步進(jìn)入測(cè)量領(lǐng)域，如對(duì)幾何量和材料特性參數(shù)的測(cè)量，有必要按照一定程序?qū)x器指標(biāo)的持續(xù)穩(wěn)定進(jìn)行監(jiān)視和控制，以提高檢測(cè)結(jié)果的可靠性。

2022-02-21 14:29:00

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IC芯片外觀檢測(cè)系統(tǒng)在IC集成芯片器件生產(chǎn)過(guò)程中，芯片的外觀質(zhì)量檢測(cè)是其中一項(xiàng)必不可少的環(huán)節(jié)，包括芯片的引腳尺寸、殘缺、偏曲、間距不均、平整度差等檢測(cè)項(xiàng)目，而上述質(zhì)量問(wèn)題會(huì)直接影響電路產(chǎn)品的質(zhì)量。外觀缺陷的自動(dòng)檢測(cè)需要使用電子元件外觀檢測(cè)設(shè)備，那么，電子元器件的外觀瑕疵缺陷如何檢測(cè)呢？

2022-02-21 14:00:00

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低溫試驗(yàn)主要用于評(píng)價(jià)在儲(chǔ)存、工作和拆裝操作期間，低溫條件對(duì)裝備的安全性、完整性和性能的影響。確定低溫試驗(yàn)順序，需遵循兩個(gè)原則：最大限度地利用裝備的壽命期限和施加的環(huán)境應(yīng)能最大限度地顯示疊加效應(yīng)。

2022-02-21 13:39:29

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超聲波檢測(cè)也叫超聲檢測(cè)、超聲波探傷，是無(wú)損檢測(cè)的一種。無(wú)損檢測(cè)是在不損壞工件或原材料工作狀態(tài)的前提下，對(duì)被檢驗(yàn)不見(jiàn)的表面和內(nèi)部質(zhì)量進(jìn)行檢查的一種檢測(cè)手段。超聲波無(wú)損探傷(NDI)是超聲無(wú)損檢測(cè)的一種發(fā)展與應(yīng)用，其設(shè)備有：超聲探傷儀、探頭、藕合劑及標(biāo)準(zhǔn)試塊等。其用途是檢測(cè)鑄件縮孔、氣泡、焊接裂紋、夾渣、未熔合、未焊透等缺陷及厚度測(cè)定。

2022-02-21 13:25:02

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開(kāi)年首月至春節(jié)期間，市場(chǎng)部分ST、TI品牌物料到貨，加上淡季效應(yīng)，缺貨勢(shì)頭略減。但從晶圓代工不斷漲價(jià)來(lái)看，缺貨基調(diào)沒(méi)有改變。此外，這期間兩筆業(yè)內(nèi)大額并購(gòu)以失敗畫(huà)上句號(hào)。由于壟斷爭(zhēng)議難以規(guī)避，外加缺芯大潮的敏感時(shí)局，這兩樁并購(gòu)本來(lái)就難以通過(guò)，此番畫(huà)上句號(hào)，業(yè)內(nèi)對(duì)它們的關(guān)注與爭(zhēng)議也可告一段落。

2022-02-18 16:33:19

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剛過(guò)完春節(jié)，市場(chǎng)重新鼎沸起來(lái)。Microchip最新傳出漲價(jià)通知，又將攪動(dòng)MCU市場(chǎng)。與此同時(shí)，一直很低調(diào)的閃存也來(lái)“偷襲”，1月下旬傳出一起原材料污染事件，直接扭轉(zhuǎn)跌勢(shì)。下面就來(lái)具體看看這兩大市場(chǎng)的情況。

2022-02-18 16:25:00

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化學(xué)分析從大類(lèi)分是指經(jīng)典的重量分析和容量分析。重量分析是指根據(jù)試樣經(jīng)過(guò)化學(xué)實(shí)驗(yàn)反應(yīng)后生成的產(chǎn)物的質(zhì)量來(lái)計(jì)算式樣的化學(xué)組成，多數(shù)是指質(zhì)量法。容量法是指根據(jù)試樣在反應(yīng)中所需要消耗的標(biāo)準(zhǔn)試液的體積。容量法即可以測(cè)定式樣的主要成分，也可以測(cè)定試樣的次要成分。

2022-02-18 16:23:00

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